| 一种高分辨双聚焦质谱仪分析系统 |
| CN202111461381.X 2021-12-3 发明申请 |
| 2022-4-15 |
| 本发明同位素分析技术，具体涉及一种高分辨双聚焦质谱仪分析系统。其包括静电分析器、安装在静电分析器前端的前端飞行管、安装在静电分析器后端的后端飞行管、与后端飞行管连接的磁分析扁管，以及与上述磁分析扁管连接的磁分析器；静电分析器包括静电屏蔽罩、安装在静电屏蔽罩内的外侧电极板和内侧电极板，以及分别安装在外侧电极板和内侧电极板两端的前端接地极和后端接地极。通过设计相互匹配的静电分析器与磁分析器有效的提高了仪器分辨率，增大了其应用范围，静电分析器中绝缘垫片与接地极的设计有效的减少了静电分析器端部弥散场对离子轨迹的影响。 |
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