| 离子阱质谱仪的质谱测定方法 |
| CN201811651515.2 2018-12-31 发明申请 |
| 2019-5-14 |
| 本发明提供了一种离子阱质谱仪的质谱测定方法。该质谱测定方法根据离子阱内待测样品浓度的实际情况，在待测样品开始出峰且浓度未达到最高点时，对后续正式扫描阶段的离子化时间进行动态调整；在待测样品浓度最高点已过去后，对后续正式扫描阶段的离子化时间进行系数增长；并在预扫描离子化时间大于阈值时间时，将后续正式扫描阶段的离子化时间保持为阈值时间不变；进行多个周期的质谱测定，将多个周期的测定结果进行平均。使得每个正式扫描阶段中离子阱内离子数量始终处于比较合适的状态，避免空间电荷效应。 |
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