| 质谱分析方法和质谱分析系统 |
| US17212168 2021-3-25 发明申请 |
| 2021-10-7 |
| 本发明提供一种质谱分析方法及质谱分析系统。 在质谱分析方法的实施过程中， 记录子离子的强度数据，与第一物理化学性质相关联的子离子的第一参数，以及与第二物理化学性质相关联的子离子的第二参数，以形成谱图数据集。 在反卷积步骤中，对谱图数据集进行反卷积，以根据包括第一参数和第二参数的二维特征对来自相同母体离子的子离子进行分类。 通过上述方式，本发明提供的质谱分析方法及系统能够显著检测出与其他离子的光谱峰部分重叠的离子，提高了数据分析独立采集的定性和定量能力。 |
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