| 质量分析装置和方法 |
| JP2018143927 2018-7-31 发明申请 |
| 2020-2-6 |
| [问题]正确地确定离子阱型质谱仪本身的性能的质量精度。 离子源10[a]， 由离子阱20产生并释放被俘获的离子的离子源10， 离子阱20从离子阱型质谱仪排出，离子阱型质谱仪使用具有1的离子检测部30， 对于产生离子的标准样品，1或多种类型的已知的待测离子的质荷比(步骤S1)指定类型1， 10(步骤S3)将标准样品引入离子源， 从离子源10在离子类型的标准样品中产生的离子到离子阱20，在离子阱中被指定为1种其它类型的离子(步骤S5)，从阱中排出， 陷阱20是用于测量离子俘获型扫描的1(步骤S6)。 图2[图] |
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