| 质量分析装置 |
| WOJP16087374 2016-12-15 发明申请 |
| 2018-6-21 |
| 测量单元(1)执行产物离子扫描测量，通过使用含有目标化合物的样品，作为前体离子，已知的离子的m/z值衍生的化合物，从而得到轮廓光谱数据。在数据处理单元(2a)，峰值检测单元(22)检测频谱中的峰值轮廓，对于每个检测到的峰，产物离子m/z值获取单元(23)获取m/z相对应的最大强度值作为m/z所述产物离子的值。一种MRM测量的伪数据提取单元(24)设定的m/z值的前体离子的m/z值由于MRM过渡的产物离子，提取最大吸收峰总强度的产物离子的MRM作为信号强度值过渡，节省了信号强度值在存储单元(25)作为伪MRM测量数据。由此，能够获得反射目标化合物浓度的定量信息，只需产物离子扫描测量而不必进行MRM测量。 |
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