| 质谱仪，激光强度调节方法和激光强度调节计算机程序 |
| EP19191980 2019-8-15 发明申请 |
| 2020-5-13 |
| 一种质谱仪，包括MALDI离子源， 分离从MALDI离子源产生的离子的离子分离器， 检测从离子分离器喷出的离子的检测器，获取在检测器中检测到的离子的质谱的数据处理器，以及控制照射MALDI离子源的激光的强度的控制器。 该控制器包括确定器，该确定器重复地确定在数据处理器中获取的质谱中是否检测到基质的峰值，同时增加从第一强度发射到样品基质混合物的激光的强度，在该第一强度下基质的所述峰值不被检测到。 以及设定器，其获取在检测到所述基质的峰值的时间点处的激光强度作为第二强度，并将所述第二强度设定为用于所述样品的分析的激光强度。 |
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