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成像质谱操作中的直接电离

US17422578 2020-1-14 发明申请

2021-12-16

如本文所述，可以设置直接电离成像质谱仪(IMS)的一个或多个参数以获得期望的等离子体并将其传送到质量检测器。根据应用，某些参数可以是预定的(例如，给定所需分辨率的光斑尺寸)，并且，如这里所述，可以调整其它参数以获得所需的等离子体性能。还包括适用于直接电离IMS和/或其它成像模式的样品制备。