| 基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法 |
| CN202110840233.2 2021-7-23 发明申请 |
| 2021-12-14 |
| 基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，包括以下步骤：1)将可调悬臂的一端可旋转地安装于调平基座上，可调悬臂的另一端与千分表连接，然后在标准平面上校准千分表读值；2)将标准靶板置于靶板平台上，调平基座轻放在调平基准面上，使千分表触碰标准靶板靶面；3)读取千分表数值并旋转靶板平台底部的调节螺钉，调整标准靶板靶面高度；4)重复步骤3)，调整底部的调节螺钉，使靶面达到标准高度且与调平基准面平行；5)通过上位机采集图谱数据与标准图谱数据进行对比，调节仪器电参数，校正靶面高度误差。该方法不但使样品靶的安装变得更加快捷，同时也减小后续频繁更换靶板带来的误差，保证仪器的分辨率和质量轴稳定性。 |
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