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质谱仪和质谱方法

JP2021518241 2019-5-8 发明申请

2021-12-2

本发明的一个方面的质量分析装置为了对影响离子源(31)中的电离效率的N种(N是2以上的整数)的参数进行最优化，对N种参数中的各参数的值，或者M种(但M是小于N的整数)的参数集合进行多个阶段的变化，同时对包含目标成分的样品进行反复的测量。