| 使用质谱分析的等离子体离子源 |
| JP2017240258 2017-12-15 发明申请 |
| 2019-7-4 |
| [A]由质谱仪使用离子等离子体离子源的分析测量来补偿元素的干扰光谱来测量。 [溶液]通过测量二价离子的干扰离子以补偿光谱干扰元素来测量使用质谱仪分析元件的等离子体离子源， 3具有不同质量同位素的奇数1之间的不同干扰，使用离子强度测量2，2，3的二价离子同位素中的第一种，通过计算二价离子同位素的量而产生第一光谱干扰。 所述测量离子质量电荷比的离子强度的测量值，通过减去干扰元素中的至少一个干扰量为1计算，测量离子强度校正。 图3[附图] |
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