产业专利数据
 
配备有透射电子显微镜(TEM)(PEEM)的光电子显微镜
 
JP2019127957  2019-6-11  发明申请
2020-12-17
 
  [A]不需要通过切换PEEMTEM样品来交换潜像，或者可以同时观察样品保持器。 [解决方案]用于透射电子显微镜的光学显微镜功能， 薄膜样品1的样品保持器既能保持体结构， 一种用于照射样品12和6的光照射机构，可以对样品1施加高电压切换机构，在同一TEM中获得样品图像，实现高分辨率图像采集PEEM。 图1B[附图]
 
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