| 一种屏蔽光电子对光电离离子源污染的新方法 |
| CN201711203498.1 2017-11-27 发明申请 |
| 2019-6-4 |
| 本发明公开了一种屏蔽光电子对光电离离子源污染的新方法。该方法是利用安装在VUV(真空紫外灯)附近，同时加载有可控电压的金属探针来吸引去除电离源内的光电子，从而大大减弱了光电子对电离源的污染，在使用一段时间后，仪器的信号不再减弱。该方法相比于传统的在VUV灯外安装氟化镁光窗的方法的优点在于可以不降低原有的光电离的效率，同时金属探针的电压和距离紫外灯电离源的距离可以灵活的调控。通过软件仿真和实验验证，证明了探针距离电离源轴心4mm，探针加载电压为300V时，光电子可以被屏蔽探针有效去除，并且原来的质谱信号强度几乎没有受到影响。 |
微信公众号