| 质量分析装置和方法 |
| JP2019549735 2017-10-25 发明申请 |
| 2020-7-30 |
| 在离子源2中产生离子， 具有多个离子透镜31， 32， 33，34被输送通过离子光学系统质量分离， 用质谱法检测质量分离， 第一离子透镜的多个离子中的一个离子作为透镜31， 32， 33 1 33 1， 预定的离子检测灵敏度的质荷比，以便通过调节施加的电压来满足预定的要求， 在多个离子透镜31，32，33中，相对于一个离子透镜，除第一离子透镜以外的133231，在预定电压范围内将第二电压施加到离子透镜32的离子检测灵敏度2。 |
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