| 基于质谱的多参数颗粒分析仪 |
| US16844373 2020-4-9 发明申请 |
| 2020-7-30 |
| 一种具有用于从样品产生颗粒流的样品引入系统的分析仪器。 电离系统在颗粒被接收时雾化和电离流中的颗粒。 该仪器具有离子预处理系统和质量分析器。 所述离子预处理系统适于将由所述电离系统产生的离子输送到所述质量分析器。 质量分析器适于通过对来自雾化颗粒的离子进行质量分析来测量来自物流的单个颗粒中的至少一种元素的量。 该仪器可适于同时测量许多不同标记物的量，例如至少五个不同标记物的量，以便于细胞和其它颗粒的多参数分析。 |
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