| 通过质谱检测气体的方法和质谱仪 |
| WOEP16055842 2016-3-17 发明申请 |
| 2016-11-10 |
| 本发明涉及一种用于检查方法的气体(4)通过质谱法，包括 : 用于产生离子的电离气体(4)(4)，4b)，和存储，激发和检测产生的离子的至少一部分(4，4)的FT离子阱(2)中。在所述方法中，生产和储存的离子(4A，4)在所述FT离子陷阱(2)和/或激发离子(4)，4)之前的离子检测(4)，4)在所述FT离子陷阱(2)包括至少一个选择性IFT处激发，特别是快捷的励磁绕组(10)，其取决于质量-电荷比(m/z)的离子(4a，4b)。本发明还涉及一种质谱仪(1)。 |
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