| 用于在轨校准质谱仪的基本参数的方法 |
| AU2021105146 2021-8-9 实用新型 |
| 2021-10-7 |
| 发明内容本发明涉及质谱仪基本参数校准技术领域， 提供一种质谱仪基本参数在轨标定方法，利用熔融状态的硅酸盐矿物能够吸附环境中气体的特点，在真空条件下对硅酸盐矿物进行加热，得到熔融的硅酸盐矿物； 将其置于标准气体环境中吸附，迅速冷却得到标准样品，然后将标准样品预先安装在质谱仪的热控装置中。 当质谱仪进入预定轨道后，当需要使用质谱仪进行物质测试时，在轨道上加热标准样品，使吸附的标准气体释放到质谱仪中，实现质谱仪基本参数的标定。 由于硅酸盐矿物在加热之前不会释放出气体， 避免了使用标准气瓶带来的漏气风险，不需要与气瓶配套的阀门，减轻了质谱仪的重量，从而降低了火箭发射成本。 17954468_1(Ghmatters)P116966.Au |
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