用于MALDI质谱分析的MALDI质谱分析用试样制备装置和测量用试样制备装置,以及用于MALDI质谱分析的试样制备用基体
 
JP2021033985  2021-3-4  发明申请

2021-9-30
 
  通过执行MALDI质谱分析,1个或2个以上的样品可以排列在一个矩阵中,该MALDI质谱分析仪可以进一步用MALDI质谱分析制备小变化的样品的方法。 MALDI质谱用于样品制备的基体[A]表面排列在基底上, 通过照射激光束在衬底的与具有基体的一侧相对的表面上, 衬底基体不飞扬, MALDI质谱分析将被放置在预定位置的样品包括,激光能量吸收材料,其中所述基底具有400nm或更大波长的激光束能量,MALDI质谱分析是针对样品制备方法进行测量的。 [图]图4A
 
仿站