| 质量分析装置和方法 |
| JP2020547601 2018-9-21 发明申请 |
| 2021-8-30 |
| 在多个测量条件下的至少一个测量参数，用于测量组1(42)和条件设置部分的不同的设置值， 用于测量执行部分(43)的多个测量条件和相应的质谱数据采集， 测量的强度超过预定部分(44)和产物离子提取产物离子， 多个提取物的离子质荷比测定强度， 前体离子的质荷比， 多个测量条件和特定元素(45)，以及MRM光谱信息生成部，生成MRM光谱成分； 多个质荷比通过测量包含在MRM产物离子(46)中的光谱强度光谱元素和构成MRM的MRM光谱分量，将MRM光谱转换为与质谱仪相关联的化合物库数据生成部分(47)。 |
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