| 在成像质谱分析中在长测量周期内保持光谱质量 |
| US16782647 2020-2-5 发明申请 |
| 2020-8-13 |
| 本发明涉及在薄样品部分上的成像质谱分析，特别是使用MALDI，其中高横向图像分辨率意味着必须采集大量质谱，并且图像采集持续许多小时。 在这种情况下，质谱的质量随时间显著降低。 本发明基于这样的发现，即连续测量系列在许多小时内光谱质量的降低仅部分地由探测器增益的降低引起， 另一个重要的原因是每个离子产生脉冲的可用离子数量的减少，这可归因于难以调节的几种现象。 本发明现在提出仅调节检测器增益，这样不仅补偿了检测器增益的降低，而且补偿了每个离子产生脉冲的可用离子数目的降低。 |
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