| 使用单粒子电感耦合等离子体质谱(SP-ICP-MS)的纳米粒子的自动化检测 |
| US16591442 2019-10-2 发明申请 |
| 2020-4-30 |
| 通过单粒子电感耦合等离子体质谱(SPICP-MS)分析样品中的粒子如纳米粒子。 在ICP-MS系统中处理样品以获得对应于离子信号强度与时间的时间扫描数据。 根据时间扫描数据确定与离子信号强度和测量离子信号强度的频率相对应的信号分布。 将粒子检测阈值确定为信号分布的离子信号部分和粒子信号部分的交点。 粒子信号部分对应于样品中粒子的测量值，离子信号部分对应于样品中除粒子之外的成分的测量值。 粒子检测阈值将粒子信号部分与离子信号部分分离，并且可以用于确定关于粒子的数据。 |
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