| 数据分析装置 |
| WOJP18003757 2018-2-5 发明申请 |
| 2019-8-8 |
| 根据本发明， 执行第一多变量分析处理单元(24)， 对于每个样品， 第一步PLS回归分析， 作为解释变量， 对于测量区域中的多个测量点中的每一个获得的质谱数据， 作为解释变量，对应于通过荧光标记和捕获特定化合物的图像而获得的荧光图像中的每个测量点的像素值，并获得回归系数矩阵。 第二多变量分析处理单元(25)执行第二步骤PLS回归分析， 作为解释变量， 一种通过对多个样本获得的多个一维回归系数矩阵进行积分并通过取， 作为所解释的变量，指示每个样本中癌症严重程度的信息作为指示每个样本的状态的信息，并再次获得回归系数矩阵。 因此， 新信息， 以常规方法难以获得的， 可以获得新的信息，所述新的信息包括与化合物等有关的信息，所述化合物等指示与癌症的严重程度有关的量的变化，所述化合物指示与荧光图像上的特定化合物的分布类似的分布。 |
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