| 用于检查多光谱样品的方法，其控制单元和显微镜组件 |
| DE102017121483 2017-9-15 发明授权 |
| 2019-3-7 |
| 使用具有成像光学器件(120)的荧光显微镜(100)检查多光谱样品(150)的方法， 借助于多光谱光源，其中(210)， 可借助触发信号操作， 照明待测样品(150)， 其中借助于成像装置(230)a由成像光学器件(120)从样品(150)产生的光发射光束路径(160)被检测， 其中在成像光学器件(120)和成像装置(230)之间引入滤光器装置(220)， 多个不同的可移动过滤器(222)包括 : 每一个与成像光学器件之间的不同波长范围相关联，并且每一个可选地(120)和成像装置(230)是可插入的， 其特征在于，相对于相对于光束路径的预定位置，为多个不同的可移动滤波器(222)分配相应的编码(160)， 并且在每种情况下，使用通过滤波器装置(20)的编码，在到达预定位置时，滤波器(222)触发信号(S1)产生多光谱光源并且在其上方被触发(210)， 其中，然后将使用(210)的各个波长范围(波长)的多光谱光源的强度(Iin)设置为预定值，并且其中，借助于成像装置(230)对于各个滤波器(222)中的每一个在到达预定位置时开始成像。 |
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