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激光系统用于电离样品的基质辅助激光解吸质谱分析中

GB0518764 2005-9-14 发明申请

2005-10-19

本发明涉及一种激光系统，用于电离样品的基质辅助激光解吸在质量质谱分析。本发明由提供激光系统中产生空间调制的强度分布与强度点在样品，显著提高了质量和质谱分析的鲁棒性与空间均匀的强度分布和，特别是，提高离子化效率和，用于飞行质谱仪的时间与轴向注入，质量分辨率和信号-噪声比。