产业专利数据
 
电子束照射装置，分析系统
 
JP2017238708  2017-12-13  发明申请
2021-4-8
 
  [A]样品由样品解吸出的组分有效地从电子束辐照中回收，其组分可用于质谱分析，电子束辐照装置。 [解决方案]根据本发明的电子束照射装置，通过使气体流出腔室，从样品组分中解吸的样品被回收。 图4[附图]
 
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