| 质谱仪 |
| JP2020522523 2018-5-31 发明申请 |
| 2021-4-8 |
| (S1-S3)在执行样品分析之后的预定时间内，依次选择诸如多个光学元件的逐个离子导向器1的极性不同于在分析期间临时施加的直流电压。 同时，具有一定m/z(S4-S7)的离子继续收集强度数据。 这样，在收集数据之后，在每个离子光学元件上，施加直流电压之前不同极性的离子强度的比值，并且该比值小于预定阈值以确定是否。 如果离子光学元件被充电，它们是脏的，施加到充电上的直流电压的极性被消除，并且进行不同的分析，增加了离子强度。 因此，如果离子强度比阈值大，则推定离子光学元件带电，显示部显示推定结果(S9～S11)。 这样多个光学元件代替了离子对操作者的污染，可提高可维护性。 |
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