| 离子阱质谱装置及使用该装置的质谱分析方法 |
| WOJP16051269 2016-1-18 发明申请 |
| 2017-7-27 |
| 本发明捕捉来自样品的离子种类的离子阱中并随后排出不必要的离子以外的目标比m/z的离子从离子捕获器(S1，S2)。然后，解离的操作目标离子阱中的离子(had)离解的氢自由基附着装置对产品进行谐振激励放电产生离子，依次从低m/z侧直至到达之前的m/z目标离子的m/z，重复多次(S3~S7)。MS/MS检测所述离子采集光谱数据进行利用谐振激励放电检测器，创建最终的MS/MS光谱和通过将所述采集的数据进行谐振激励放电的多以上(S5，S8)。虽然在解离前体离子的效率进行利用HAD低，通过重复地将所述目标产生的离子的电离离解的单圈通过操作本发明具有和谐振激励放电多次操作，所述产物离子的量增加，因此，可以得到高SN比，高灵敏度的MS/MS光谱。 |
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