| 质谱分析的检测正和负电荷的颗粒 |
| WOUS15053536 2015-10-1 发明申请 |
| 2016-4-7 |
| 本发明特征在于质谱分析的系统和方法包括离子源， 离子阱， 探测器子系统具有第一和第二检测器元件， 和一控制器，电连接到所述离子源， 离子阱， 和检测器子系统和构造成使得该系统的操作期间， 控制器 : 施加电信号到离子源，以产生正向和反向的带电粒子从样品中的颗粒 系统； 施加电信号至离子阱来喷射的多个颗粒从离子阱通过 共孔径的离子阱， 和确定关于基于样品颗粒第一和第二产生的电信号通过喷射出的粒子。 |
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