| 质谱仪 |
| WOJP15079114 2015-10-15 发明申请 |
| 2017-4-20 |
| 本发明的质量分析计算的总离子电流信号的信号强度，等，在基于质谱得到正常的质谱分析，如果信号强度超过强度阈值，估计的色谱图峰信号强度的基础上开始时刻t0和紧接在前的信号强度。此外，所述的质谱仪，计算将MS2的执行可否通过加入起始和结束时间Ts，在开始时刻t0，一种从半峰宽来确定延时时间Tdelay估计得到的色谱分离条件。从时间点，当所述实际时间超过TS，所述质谱仪从所述物质的前体离子选择条件选择满足峰得到的质谱光谱。所述的质谱仪，立即进行，MS2分析具有相对应的选定峰m/z值作为目标，获取ms2谱。适当地确定延时时间Tdelay使得可以获得高灵敏度的光谱ms2一种靶材组件当在所述时间点目标成分的浓度变得足够高，并且提高了测量的准确度；部件识别和结构分析。 |
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