| 全二维气相飞行时间测量型质谱分析装置和方法 |
| WOJP17007769 2017-2-28 发明申请 |
| 2017-9-8 |
| 全二维气相飞行时间型质量测量装置测量第一离子阱中的离子加速的存储和引入所述离子的飞行管测量时间的程度从而测定质量的离子，所述装置具有 : 一种能够存储从离子源第二的离子阱和将所述离子注入第一待测离子阱；和第三可以存储参考离子的离子阱并将所述参考离子为第一离子阱。该装置此外还优选设有控制装置，用于交替地进行在规定的模式(例如，一次) : (1)待测离子从第二引入离子阱第一，离子阱，与全二维气相飞行时间测量待测离子；和(2)的参考引入离子第三的离子阱第一，离子阱，与全二维气相飞行时间测量基准的离子。 |
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