质谱仪
 
KR1020190019878  2019-2-20  发明申请

2020-8-28
 
  公开了一种用于OLED面板样品的质量分析器。 一种用于通过激光解吸电离方法分析OLED面板样品的装置,包括设置在其上的OLED面板样品。 激光照射单元用激光照射OLED面板样品; 提供OLED面板样品的观察图像的视觉单元; 以及离子检测器,用于基于由激光照射单元照射的激光来检测从OLED面板样品解吸的离子。
 
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