| 串联质谱仪 |
| WOJP15078516 2015-10-7 发明申请 |
| 2017-4-13 |
| 分析的控制下，控制单元(5)，一种质量分析部(2)进行产物离子扫描测量，在测量样品中的目标成分时间范围，在该范围内的目标成分被引入，并对其进行扫描的m/z范围测量包括m/z的离子从参考元件在同一时间区。一种量校正量校正信息计算单元(42)确定信息从所测量的离子m/z值从该基准参考组件的MS从扫描得到的光谱测量中观察到m/z值与理论离子。一种量校正量校正单元(43)使用此信息用于每个离子峰m/z校正源自MS/MS谱中观察到的靶材组件中得到的产物离子扫描进行测量从而在相同的周期，所述扫描测量。测定和MS/MS同一周期中进行测量可以被视为已进行大致相同的时间，使质量校正的内标法大致相当，可以进行。 |
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