| 质量分析装置 |
| WOJP15067109 2015-6-15 发明申请 |
| 2016-1-14 |
| 本发明涉及一种质量分析装置是可以进行高度鲁棒，高灵敏度，低噪声分析。本发明所要解决的防止起因于离子的传质效率和抑制噪声的引入成分从液滴，等，本发明具有产生离子的离子源，真空室抽真空，用抽气装置和用于分析质量的离子，和离子导入电极(12)，其将离子注入到所述真空室。本发明其特征是 : 离子导入电极(12)具有离子源侧前级孔(35)，真空室一侧的后级孔(36)，和中间压力室(33)，其前级之间的孔(35)和后级孔隙(36)，在所述离子入口的横截面面积的中间压力室(33)大于横截面面积的前级孔(35)，在中心轴线的位置的前级孔(35)和中心的位置后级孔隙的轴线(36)偏心，和在所述离子出口的横截面面积的中间压力室(33)小于所述的离子入口的横截面面积。 |
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