| 质量分析装置和方法 |
| JP2019046142 2019-3-13 发明申请 |
| 2020-9-17 |
| [问题]容易获得质量分析器的高质量质谱。 [解决方案]根据本发明的质谱仪， 用激光束照射样品111, 118, 119, 120, 121照射激光， 激光束的照射位置照射在移动部件123上并移动样品的位置， 由样品产生的荧光是荧光检测器122， 由质谱质量分析器116, 117产生的样品离子， 对于设置在用激光照射的样品上的多个微小区域中的每一个， 荧光检测， 从而确定激光束移动部分和用于执行质谱分析的控制部分的照射位置， 多个微区域大于来自区域确定部分的阈值荧光强度，用于将目标区域确定为微小区域，目标区域基于质谱分析的结果，用于生成具有该部分的代表性质谱的代表性质谱。 图1[附图] |
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