| 分析装置 |
| WOJP14084281 2014-12-25 发明申请 |
| 2016-6-30 |
| 在该分析装置，每次要获得的质谱数据，质量校准单元(42)使用峰值发生的位置，源自内已知的标准物质的m/z值，以确定的质量偏移量，进行质量偏置量进行校正的方法。一种批量标定的信息采集单元(43)收集的质量偏移数量和质量的每个质量的校正量频谱数据。所述测量端后，一种三维表示信息准备单元(44)创建三维图形其中多个收集量校正量设置为曲线点在立体空间包括作为两个垂直轴的主立柱保持时间和二次柱保留时间从综合二维LC单元(1)，和质量校正量为垂直轴这两个轴线。以这种方式，质量之间的关系的偏置量和停留时间从每一列具有不同的分离性能找到一目了然，例如，允许这种情形中的质量偏移量测量的执行期间具有异常增加被容易。 |
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