| 四极质量分析仪 |
| WOJP08001282 2008-5-22 发明申请 |
| 2009-11-26 |
| 当所述质量扫描的扫描速率被设定为高，所施加的电压变化的量该入射的所述的时间之间的一个离子在一四极质谱所述发射滤波器和所述的时间所述的离子从那里被设定为大，所述通道的离子被改变的情况，以及因此该离子的量被降低和检测灵敏度劣化。为了避免这个，该值的电压(U，V)被确定，使得一电压比(U\/V)的一个直流电压(U)到所述幅度高频率的电压施加到一杆(v)电极在所述质量扫描的时间被设定为较小的作为所述扫描率是较大。因此，基于马蒂厄方程一个稳定区中的视图，所述的倾斜线L表示所述施加电压的变化在所述质量扫描的时间被设定到被逐渐和所述量所述的离子通过所述四极质谱滤波器是当所述质量增加是高，在特定的。 |
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