产业专利数据
 
一种改进的静电离子阱质谱仪
 
JP2015166668  2015-8-26  发明申请
2016-3-17
 
  要解决的问题 : 提高了信号处理，高阶谐波信号分析装置，能够去除静电阱的质谱分析。方法 : 静电阱14，体积所限定的静电场，它是静态的且不具有的电位梯度包括能阱电极，一种静电场中的离子束连续注入，第二级容积。选择的绘图 : 图。1
 
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