| 同时正负电离分析物质量分析装置 |
| US15560386 2016-3-29 发明申请 |
| 2018-3-8 |
| 除其他外，我们描述了用于电离感兴趣的目标分子分析物的方法和设备，例如用于质谱分析的方法和设备。 在一些实施方案中，薄分子流以单模式或分裂模式发射，并且遇到顺序地或重合地放置的电子撞击离子源和余摆线电子单色器。在一些实施方案中，薄分子流以单模式或分裂模式发射，并且遇到电子撞击离子源和余摆线电子单色器两者。 第一个离子源发射高能电子(？70eV)，产生特征性的带正电荷的质谱碎片谱；第二个离子源发射低能电子，通过电子俘获电离产生负离子或其他离子。 双离子源可以耦合到诸如气相色谱仪之类的分析仪器和诸如极性切换四极质量分析器之类的任何数量的质量分析器或者耦合到多个质量分析器。 |
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