一种基质辅助激光解析质谱大批量上样装置
 
CN201811356938.1  2018-11-15  发明申请

2019-4-5
 
  本发明涉及一种基质辅助激光解析质谱大批量上样装置。该上样装置包括可伸缩支架、上样孔道板、样品刮板和样品压板组成。可伸缩支架可调节大小以适应各种不同规格的靶板,调节高度以控制上样孔道板及靶板的距离。上样孔道板上孔道阵列与靶点阵列一致。用样品刮板将倾倒在上样孔道板上的待测样品简单快速的平均分配到各个孔道中,再使用样品压板使孔道中的样品在外加压力的作用下,同时上样至靶点上。该装置可实现基质辅助激光解析质谱的大批量同时上样,缩短点靶及等待结晶的时间,提高质谱检测效率。
 
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