| 质量分析装置和方法 |
| US16041679 2018-7-20 发明授权 |
| 2020-4-28 |
| 本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法，在不使装置大型化的情况下，提高包含第二材料的第一材料的检测精度，缩短测定时间。 一种质量分析装置，用于分析样品，所述样品包含第一材料和至少一种第二材料，所述第一材料包含有机化合物，所述第二材料包含有机化合物并具有与所述第一材料的质谱峰重叠的质谱峰，所述质量分析装置包括 : 峰校正单元， 其中， 当峰值A的强度比(峰值B)/(峰值A)时， 不与第一材料重叠， 和峰B， 与第一材料的材料重叠， 是校正系数(W)，通过从样品中的第一材料的质谱的峰值C的强度中减去W×(峰值A的强度)来计算第一材料的质谱的净峰值D的强度。 |
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