| 用于单异主题的大分子物质的具体方法 |
| JP2017173076 2017-9-8 发明授权 |
| 2020-2-12 |
| 本发明涉及一种用于鉴定单同位素质量或与样品中所含和/或由样品通过至少一种电离过程产生的至少一种分子的同位素分布的同位素质量相关的参数的方法。 该方法包括以下步骤： (i)用质谱仪测量样品的质谱(ii)将样品的质谱的至少一个测量m/z值范围划分为级分(iii)将至少一个测量m/z值范围的级分中的至少一些分配给 提供的几个处理器(iv)中的一个处理器从所述至少一个测量m/z值范围的至少一个级分中的所述测量质谱中为所述样品中包含的和/或源自所述样品的所述至少一种分子中的每一种推断所述至少一个测量m/z值范围的至少一个级分。 其具有特定电荷Z(v)的离子的同位素分布从包含在样品中和/或源自样品的至少一种分子中的每一种的离子的至少一个推断的同位素分布推断单同位素质量或与质量相关的参数 所述同位素的同位素分布为分子种类。 |
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