| 质谱仪，包括该质谱仪的系统和测定化合物同位素解剖结构的方法 |
| US16206951 2018-11-30 发明申请 |
| 2019-4-4 |
| 一种第一质谱仪，包括 : 第一引入装置，被配置为在参考材料和分析物的第一部分之间进行选择，并将所选择的参考材料或分析物的第一部分引入离子源； 所述第一质谱仪被配置为以约30, 000或更高的第一质量分辨率向检测器提供第三分子分析物离子。 一种系统包括第一质谱仪和第二质谱仪。 一种用于测定样品中分析物的同位素组成的方法，包括将分析物的第一部分转化为第一分子分析物离子， 滤出第二分子分析物离子，滤出第三分子分析物离子，以约30, 000或更高的质量分辨率检测两个或更多个第三分子分析物离子，以测定至少一部分分析物的同位素组成。 |
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