| 飞行时间质谱仪中具有虚轴跟踪的解吸束控制 |
| US16422821 2019-5-24 发明申请 |
| 2019-11-28 |
| 本发明涉及具有样品脉冲电离的飞行时间质谱仪， 例如通过基质辅助的激光解吸(MALDI)，其中样品位于样品载体上，并且在栅格中被位置控制的解吸光束一个接一个地照射和电离。 离子-光学拉紧透镜装置位于样品支架的前面， 该装置中的至少一个透镜光圈被细分成多个区段，并且电压源能够根据解吸梁在支撑板上的冲击位置向这些区段或其中的一些区段提供不同的电压。 然后可以将透镜的有效离子-光学聚焦中心虚拟地移离轴， 以及将从实际透镜轴产生的离子束聚焦成基本上平行于实际透镜轴延伸的束，而对于相同质量的离子没有时间相移。 该光束可以通过X/Y偏转单元返回到轴上，例如用于操作具有反射器的飞行时间质谱仪。 |
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