| 质谱仪和质谱，利用近红外荧光材料 |
| WOKR16012234 2016-10-28 发明申请 |
| 2017-10-5 |
| 一种质谱计中使用近红外(NIR)荧光可以包括 : 形成为使得样品板，它包括基质用于电离和荧光材料具有激发波长的近红外波段的光；装载于其上；荧光检测单元形成，从而获得荧光图像从样品用荧光材料板上；光发射单元发出的激光束形成为用于电离样品板上；和形成离子检测单元，以检测，利用激光束，产生的离子从样品。利用近红外荧光，荧光干扰的情况下用于MALDI成像矩阵可以排除即使在涂覆基质，由于因内部组织自体荧光干扰的荧光低，即使对于厚的样品进行测量的荧光，从而可进行准确的分析MALDI成像比较重要的部分上，的样品，荧光图像的基础上被确定。 |
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