| 校准质谱仪的方法 |
| CN201710692151.1 2017-8-14 发明申请 |
| 2018-2-23 |
| 一种用于校准质谱仪的方法，该质谱仪包括离子源、作为第一四极杆的第一质量分析仪、第二质量分析仪和用以检测离子的检测构件。第一四极杆在选择具有过滤器窗口宽度w的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中可操作为预选择质量分析仪，其中RF电压和DC电压施加到第一四极杆的电极，RF电压的振幅为选定质量m和过滤器窗口宽度w的第一函数RF(m, w)，且DC电压为选定质量m和过滤器窗口宽度w的第二函数DC(m, w)。该方法包括以下步骤：i)在第一时间t1校准第二质量分析仪，ii)在比在质量分析模式中操作第二质量分析仪的第一时间t1稍后的第二时间t2处在选择具有过滤器窗口宽度wcal的质量过滤器窗口中的质量的质量选择模式中校准第一四极杆。 |
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