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纳米粒子辅助的质谱纳米级分子成像

US15485003 2017-4-11 发明申请

2017-8-3

描述了用于质谱分析的方法和装置，特别是使用纳米粒子注入作为二次离子和更一般地二次粒子的基质。光子束源或纳米粒子束源可用于解吸源或一次离子/一次粒子源。