| 质谱中的校正质量分析物值 |
| US13417558 2012-3-12 发明申请 |
| 2013-9-12 |
| 描述了一种用于确定分析物的质荷比的方法，该方法考虑了当离子阱中存在相对高浓度的离子时的空间电荷限制。 该方法包括校准由分析物离子本身引起的空间电荷效应的质谱仪，以及校准具有不同于分析物离子的质荷比的相邻离子的质谱仪。 在离子阱中存在相对高浓度的离子的情况下，可以测量分析物离子和相邻离子的质谱。 可以基于测量的分析物质量电荷比、测量的分析物丰度、第一质量电荷比差和测量的第一相邻离子丰度来计算分析物离子的校正的质量电荷比。 校正后的质荷比具有更高的精度，同时改善了离子阱质量分析器的动态范围。 |
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