| 离子光学器件的漏极离子迁移率 |
| WOUS10027108 2010-3-12 发明申请 |
| 2010-9-23 |
| 一个样品分析系统包括一种离子的去除机构用于去除残留的离子从所述样品分析系统。该离子的去除机构可以包括在一个离子光学组件，其中一种离子迁移率的滤波器连接到质量分析仪。一待分析样品通过所述样品分析系统可以进入离子迁移率的滤波器。该离子迁移率的滤波器对所述的离子所述样品和通过所述滤波后的组的离子到所述离子光学组件。所述离子光学组件传送所述滤波后的组的离子质量分析仪，其中一些或所有所述该组中的离子被检测到。该离子然后去除机构去除所有或基本上所有残留的离子从离子光学器件，其被左在从第一之前过滤组第二过滤组是通过。 |
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