| 质谱仪、包含该质谱仪系统和用于测定化合物同位素结构的方法 |
| US14051392 2013-10-10 发明申请 |
| 2014-4-10 |
| 第一质谱仪包括第一引入装置，该第一引入装置被配置为在参考材料和分析物的第一部分之间进行选择，并将所选择的参考材料或分析物的第一部分引入离子源，第一质谱仪被配置为以约30, 000或更高的第一质量分辨率向检测器提供第三分子分析物离子。 系统包括第一质谱仪和第二质谱仪。 一种用于测定样品中分析物的同位素组成的方法，包括将分析物的第一部分转化为第一分子分析物离子，滤出第二分子分析物离子，滤出第三分子分析物离子，以约30, 000或更高的质量分辨率检测两种或多种第三分子分析物离子，以测定分析物的至少一部分的同位素组成。 |
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