| 液晶材料金属元素检测方法 |
| CN201510449649.6 2015-7-28 发明申请 |
| 2015-12-16 |
| 本发明公开一种液晶材料金属元素检测方法，包括如下步骤：样品取样：将薄膜晶体管液晶显示屏面板裂片后，分别用刮刀刮取TFT基板侧和CF基板侧液晶，收集所述液晶用天平精确称重得到检测样品；样品前处理：采用溶剂稀释法，稀释所述检测样品8～12倍得到分析溶液；将所述分析溶液送入电感耦合等离子质谱仪中进行液晶材料金属元素检测，采用外标法定量。本发明的液晶材料金属元素检测方法可以快速、准确地分析液晶中金属元素浓度。 |
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