| 太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构 |
| CN201922452530.0 2019-12-30 实用新型 |
| 2020-10-27 |
| 本实用新型公开了一种太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构,适于并且匹配各种型号的原子力显微镜以检测一待测样品,所述太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构包括一90°平面镜、一AFM探针、一第一平面镜,所述AFM探针用于检测置于一AFM样品台的所述待测样品,所述第一平面镜置于所述90°平面镜的靠近AFM样品台的一侧。本实用新型专利申请公开的太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构,适用并且匹配多种成熟的商业化AFM,抛物面镜需针对AFM进行定制,在保证将入射太赫兹脉冲束聚焦到AFM探针之上及收集经探针和样品散射的太赫兹脉冲束的前提下不与AFM结构产生冲突。 |